[簡介]小麥表型檢測系統TPM-BX-1可測量小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標
TPM-BX-1
標準配置
[簡介]一種基於圖像識別的“玉米株型分析系統”不僅能夠實現對傳統手工測量的替代，多參數一次性獲取的特徵也能顯著提高分析效率，對於現代農業育種、涉農科研和農業生產有着巨大的推動作用。
TPMT-X-1
標準配置
[簡介]千粒重測量系統不僅可以測出種子數量，也可以自動換算出千粒重。
標準配置
[簡介]大豆表型檢測儀可以測量大豆夾角、莖粗、總粒數和千粒重等指標，這些高通量表型參數爲大豆品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮着至關重要的作用。
TPD-BX-1
標準配置
[簡介]玉米表型檢測系統TPY-BX-1可以測量凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、株高、莖稈節間距和莖粗、葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和千粒重等指標。
TPY-BX-1
標準配置
[簡介]水稻表型檢測系統可測量水稻株高、夾角、莖粗、水稻畝穗數、理論產量、水稻穗粒數、一/二次枝梗數量和長度、各枝梗穗粒數、着粒密度、穗長、總粒數和千粒重等指標，
TPS-BX-1
標準配置
[簡介]水稻整穗考種儀可以測量各枝梗穗粒數、一次枝梗長度和對應穗粒數、二次枝梗長度和對應穗粒數、枝梗着粒密度、穗着粒密度以及平均值、種子粒數、千粒重。
TPDS-X-1 plus
標準配置
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型號：TPCB-II-C7.0 plus/TPCB-III-C7.0 plus
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